一种用于对芯片使用寿命进行测试的方法及系统

本发明公开了一种用于对芯片使用寿命进行测试的方法及系统，其中方法包括：S1,通过测试软件发起被测芯片的写入数据指令，向被测芯片的寄存器写入模拟测试数据，对写入的所述模拟测试数据的正确性进行判断，获取判断结果；S2,当判断结果为所述模拟测试数据正确时，所述被测芯片执行初始化指令后执行步骤S1；或者当判断结果为所述模拟测试数据错误时，结束对被测芯片的测试，并对所述被测芯片的寿命周期进行计算：设一个测试周期的被测芯片的写入模拟测试数据的次数为S，用电信息采集系统抄读的频率不少于V min/次，则被测芯片寿命使用周期的计算结果T＝S*V min。