1.一种用于RRAM器件的选通管疲劳特性测试的装置，其特征在于，包括：分压元件，与待测选通管相连接，用于在测试过程中为所述待测选通管进行分压；以及计数器，与所述待测选通管相连接，用于检测所述待测选通管的电压和/或电流变化；其中，所述分压元件与所述待测选通管串联连接构成一震荡器，所述震荡器用于在测试过程中体现所述待测选通管的电压和/或电流的变化；当施加于震荡器的选通管上的供电电压值达到或大于待测试选通管的阈值电压时，选通管开始工作，选通管的阻值减小，流经选通管的电流自初始值增大至限流，对应于选通管的开启；此时，分压元件上的电阻阻值不变，且由于电源施加的总电压固定，分压元件上的电压会随测试通路中的电流增大而增大，相应地，选通管上的电压会随电流增大而减小；当该选通管的电流增大至限流后，选通管的阻值增大，流经选通管的电流减小至初始值，分压元件上的电压会随测试通路中的电流减小而减小；相应地，选通管上的电压会随电流减小而增大，即完成一次选通管的开启循环。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括一震荡控制器，其中：所述震荡控制器一端连接于所述震荡器，用于控制所述震荡器的震荡周期的大小；所述震荡控制器另一端接地，用以实现与所述震荡器并联的控制通路。
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述分压元件的另一端接地，实现所述装置的测试通路。
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述分压元件具有阻值R f ，满足：R x_min ≤R f ≤R x_max其中，R x_min 为所述待测选通管的开启电压大于其阈值电压时的电阻阻值，R x_max 为所述待测选通管的开启电压小于其阈值电压时的电阻阻值。
5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：电源，与所述震荡器相连接，用于向所述震荡器进行恒压供电。
6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述计数器与所述待测选通管并联，用于检测所述待测选通管的电压变化。
7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述计数器与所述待测选通管串联，用于检测所述待测选通管的电流变化。
8.一种用于选通管疲劳特性测试的方法，应用于权利要求1-7中任一项所述的装置，其特征在于，所述方法包括：电源向由分压元件与待测选通管构成的震荡器进行恒压供电，以实现在测试过程中待测选通管的电压和/或电流的变化；以及响应于所述恒压供电，实现所述震荡器的至少一个震荡周期。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述响应于所述恒压供电，实现所述震荡器的至少一个震荡周期包括：响应于所述恒压供电，实现待测选通管的开启电压大于待测选通管的阈值电压，以减小所述装置的测试通路中的电流；响应于所述测试通路中的电流减小，实现待测选通管的开启电压小于待测选通管的阈值电压，以完成所述震荡器的至少一个震荡周期；其中，所述分压元件与所述待测选通管串联连接构成所述震荡器，所述震荡器用于在测试过程中体现所述待测选通管的电压和/或电流的变化。
