失效
一种膜电极缺陷检测方法及装置
叶
叶青机构 暂无
胡
胡晓机构 暂无
宋
宋洁机构 暂无
许
许可机构 暂无
郭
郭志远机构 暂无
徐
徐桂芝机构 暂无
邓
邓占锋机构 暂无
叶
叶俊机构 暂无
高
高运兴机构 暂无
摘要
本申请提供了一种膜电极缺陷检测方法及装置,该方法包括:获取膜电极的初始图像,初始图像包括:阴极催化层的待检测图像、质子交换膜的待检测图像以及阳极催化层的待检测图像;对初始图像进行缺陷特征提取,得到对应的缺陷特征图像;根据各缺陷特征图像,确定膜电极的缺陷检测结果。上述方案提供的缺陷检测方法,通过获取膜电极各层部件的图像,并分别进行缺陷特征提取的方式,可以对膜电极的各层部件分别进行缺陷检测,实现了对膜电极进行全方位检测,最后根据各层部件的缺陷检测情况确定该膜电极的缺陷检测结果,提高了检测结果的精确度。
暂无引用专利



