储层改造方法及装置

1.一种储层改造方法，其特征在于，所述方法包括：基于储层中的测试储层段的多个测试样本点，获取产量数据和多项第一录测井数据，所述多项第一录测井数据包括多项影响因素对应的录测井数据；对所述产量数据和所述多项第一录测井数据进行无因次化处理；获取经过无因次化处理过的产量数据与各项第一录测井数据之间的多项第一相关系数；将第一相关系数大于预设阈值的影响因素获取为目标影响因素；获取经过无因次化处理过的产量数据与各项目标影响因素对应的第一录测井数据之间的第二相关系数；采用偏最小二乘法对每项所述第一相关系数和所述第二相关系数进行多元线性回归处理，得到各项目标影响因素对产量的投影重要性指标；获取所述储层中的目标储层段的多项第二录测井数据，所述第二录测井数据包括各项所述目标影响因素对应的录测井数据；对于所述目标储层段，将每项第二录测井数据与相应的投影重要性指标相乘，将乘积之和获取为储层改造系数；基于所述储层改造系数，对所述目标储层段进行改造。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多项影响因素包括：有效厚度、储层垂厚、Ⅰ+Ⅱ比例、井斜角、漏失量、全烃、深浅电阻率比、孔隙度、渗透率、含水饱和度、储能系数、补偿声波、补偿密度、深浅电阻率差、自然伽马、深侧向和浅侧向，所述Ⅰ+Ⅱ比例是指在测井解释中I、II类储层厚度占总储层厚度的比例。 3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述产量数据和所述多项第一录测井数据进行无因次化处理，包括：获取每项第一录测井数据的多个样本点的平均数；对于每项数据，将每个样本点的数值除以所述数据的平均数，得到所述每个样本点的无因次化处理后的数据。 4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取经过无因次化处理过的产量数据与各项第一录测井数据之间的第一相关系数，包括：基于下述公式（2）计算所述第一相关系数： （2）其中， 表示所述第一相关系数；X a 表示产量数据；X b 表示一项或多项第一录测井数据；j表示样本点的序号；m表示样本点的总个数；avg表示平均数。 5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采用偏最小二乘法对每项所述第一相关系数和所述第二相关系数进行多元线性回归处理，得到各项目标影响因素对产量的投影重要性指标，包括：基于下述公式（4）计算所述投影重要性指标： （4）式中：I vip,j 表示影响因素t对测试产量的投影重要性指标；p为自变量个数；r（y，t 1 ，t 2 ，…t m ）表示所述第二相关系数；r（y，t j ）表示所述第一相关系数；W j 表示测试产量。 6.一种储层改造装置，其特征在于，所述装置包括：数据获取模块，所述数据获取模块用于基于储层中的测试储层段的多个测试样本点，获取产量数据和多项第一录测井数据，所述多项第一录测井数据包括多项影响因素对应的录测井数据；数据处理模块，所述数据处理模块用于对所述产量数据和所述多项第一录测井数据进行无因次化处理；相关系数获取模块，所述相关系数获取模块用于获取经过无因次化处理过的产量数据与各项第一录测井数据之间的多项第一相关系数；目标影响因素获取模块，所述目标影响因素获取模块用于将第一相关系数大于预设阈值的影响因素获取为目标影响因素；所述相关系数获取模块还用于获取经过无因次化处理过的产量数据与各项目标影响因素对应的第一录测井数据之间的第二相关系数；投影重要性指标获取模块，所述投影重要性指标获取模块用于采用偏最小二乘法对每项所述第一相关系数和所述第二相关系数进行多元线性回归处理，得到各项目标影响因素对产量的投影重要性指标；所述数据获取模块还用于获取所述储层中的目标储层段的多项第二录测井数据，所述第二录测井数据包括各项所述目标影响因素对应的录测井数据；储层改造系数获取模块，所述储层改造系数获取模块用于对于所述目标储层段，将每项第二录测井数据与相应的投影重要性指标相乘，将乘积之和获取为储层改造系数；储层改造模块，所述储层改造模块用于基于所述储层改造系数，对所述目标储层段进行改造。 7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述多项影响因素包括：有效厚度、储层垂厚、Ⅰ+Ⅱ比例、井斜角、漏失量、全烃、深浅电阻率比、孔隙度、渗透率、含水饱和度、储能系数、补偿声波、补偿密度、深浅电阻率差、自然伽马、深侧向和浅侧向，所述Ⅰ+Ⅱ比例是指在测井解释中I、II类储层厚度占总储层厚度的比例。 8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述数据处理模块用于：获取每项第一录测井数据的多个样本点的平均数；对于每项数据，将每个样本点的数值除以所述数据的平均数，得到所述每个样本点的无因次化处理后的数据。 9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述相关系数获取模块用于：基于下述公式（2）计算所述第一相关系数： （2）其中， 表示所述第一相关系数；X a 表示产量数据；X b 表示一项或多项第一录测井数据；j表示样本点的序号；m表示样本点的总个数；avg表示平均数。 10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述投影重要性指标获取模块用于：基于下述公式（4）计算所述投影重要性指标： （4）式中：I vip,j 表示影响因素t对测试产量的投影重要性指标；p为自变量个数；r（y，t 1 ，t 2 ，…t m ）表示所述第二相关系数；r（y，t j ）表示所述第一相关系数；W j 表示测试产量。