金属微粒陷阱捕捉试验装置及方法

1.金属微粒陷阱捕捉试验方法，其特征在于，金属微粒陷阱捕捉装置包括模拟筒体、导电杆、套管总装，模拟筒体内壁上设有试验位，用于支撑放置具备待测微粒捕捉器的支柱绝缘子组件，套管总装与模拟筒体装配以向所述导电杆施加电压，微粒放置孔设置于模拟筒体的筒壁上且位于微粒捕捉器旁侧，微粒捕捉器有三个，第一微粒捕捉器上设有圆孔，第二微粒捕捉器上设有沿模拟筒体轴向延伸的轴向长孔，第三微粒捕捉器上设有沿模拟筒体周向延伸的周向长孔，三个微粒捕捉器与三个微粒放置孔一一对应，试验方法包括以下步骤：1）通过微粒放置孔向模拟筒体内于相应微粒捕捉器的旁侧放置相同数量，相同规格的金属微粒；2）向模拟筒体和套管总装内充入气体绝缘介质；3）通过套管总装向模拟筒体内的导电杆施加电压，并使施加的电压幅值大于金属微粒的起举电压，经过设定试验时间后撤去电压，观察微粒捕捉器对金属微粒的捕捉效果；在步骤3）中，通过套管总装向模拟筒体内的导电杆施加直流电压，直流电压的施压方式为先施加正压，再施加负压；在步骤3）中，通过套管总装向导电杆施加不同电压幅值、不同时间的加压程序，以得出不同加压程序下的微粒捕捉器的捕捉效果。 2.根据权利要求1所述的金属微粒陷阱捕捉试验方法，其特征在于，在步骤1）中，于各微粒捕捉器旁侧相同距离的位置处分别放置相同数量、相同规格的金属微粒。 3.根据权利要求1所述的金属微粒陷阱捕捉试验方法，其特征在于，在步骤1）中，在放置金属微粒之前，先将模拟筒体调平。