有效
实时校准装置、实时校准方法和检测设备
张清军、陈志强、李元景、李荐民、刘以农、刘耀红、李广勤、朱伟平、李鸽、马秋峰、曹彪
同方威视技术股份有限公司
张
张清军 专利 321
清华同方威视技术股份有限公司核与X射线测量辐射测量辐射测试
陈
陈志强 专利 1152
清华大学辐射测试地球物理探测核辐射勘探
李
李元景 专利 1243
清华大学核与X射线测量辐射测量辐射测试

李荐民 专利 376
清华大学核辐射勘探辐射测试地球物理探测

刘以农 专利 358
清华大学辐射测试核与X射线测量辐射测量
刘
刘耀红 专利 342
同方威视技术股份有限公司粒子辐射技术线性加速器X射线技术
李
李广勤 专利 32
同方威视技术股份有限公司材料测试分析测量与测试电化磁测
朱
朱伟平 专利 55
清华大学色谱法材料测试分析测量与测试
李
李鸽 专利 70
同方威视技术股份有限公司电化磁测取样制备材料测试分析
马
马秋峰 专利 91
同方威视技术股份有限公司色谱法电化磁测取样制备
曹
曹彪 专利 53
同方威视技术股份有限公司取样制备材料测试分析测量与测试
摘要
本公开的实施例提供一种实时校准装置、实时校准方法以及检测设备。实时校准装置与待校准设备的用于进样的进样管路流体连通。其中,所述实时校准装置配置成在待校准设备的进样过程中释放痕量的校准剂,所述痕量的校准剂与样品混合并同时进入待校准设备通过待校准设备检测样品和校准剂的信息,从而实施校准。
1.一种用于待校准设备的实时校准装置,包括:校准剂存储罐(101),用于存储校准剂;密封塞(104),配置在所述校准剂存储罐内将所述校准剂存储罐内的空间分成第一腔(1011)和第二腔(1012),并且所述密封塞包括一个或多个毛细通孔,以允许存储在第一腔内的校准剂分子(109)通过所述密封塞的一个或多个毛细通孔扩散至第二腔内;以及阀(107),所述阀配置成接通或关断所述校准剂存储罐的第二腔与待校准设备的进样管路之间的通路,以便控制将校准剂释放至待校准设备的进样管路的过程;其中,所述阀(107)连接至待校准设备的用于进样的进样管路。
2.根据权利要求1所述的实时校准装置,其中,所述阀(107)为电磁阀,所述电磁阀配置成:在待校准设备的进样过程中,通过电磁阀接通预定时间,使得校准剂存储罐(101)释放痕量的校准剂进入所述进样管路,所述痕量的校准剂与进入待校准设备的样品混合并一同进入待校准设备,通过待校准设备检测样品和校准剂的信息,从而实施校准。
3.根据权利要求1所述的实时校准装置,还包括存储罐盖(105),连接至所述存储罐并覆盖所述存储罐的一端,并且所述阀通过设于所述存储罐盖的通孔与所述存储罐流体连通。
4.根据权利要求1所述的实时校准装置,还包括半透膜(106),设置在所述存储罐的靠近所述阀的一端,所述半透膜与所述密封塞限定所述第二腔,所述半透膜允许所述校准剂分子从所述第二腔通过所述半透膜进入所述阀。
5.根据权利要求1所述的实时校准装置,还包括校准剂胶囊(103),配置在所述第一腔内用于存储包含校准剂的样品以便能够向所述第一腔释放校准剂分子。
6.根据权利要求1所述的实时校准装置,还包括第一O形垫圈,设置在所述密封塞和所述存储罐的内壁之间,用于密封所述密封塞和所述存储罐的内壁之间的间隙。
7.根据权利要求3所述的实时校准装置,还包括第二O形垫圈,设置在所述存储罐盖和所述存储罐的一端的端面之间,用于密封所述存储罐。
8.一种用于待校准设备的使用根据权利要求1-7中任一项所述的实时校准装置实施的实时校准方法,包括:在待校准设备的进样过程中释放痕量的校准剂分子,所述痕量的校准剂分子与设备的样品混合并同时进入待校准设备,通过待校准设备检测样品和所述校准剂的信息,从而实施校准。
9.如权利要求8所述的实时校准方法,其中使用校准装置瞬间释放痕量的校准剂分子,其中所述校准装置包括:校准剂存储罐(101),用于存储校准剂;和阀(107),所述阀配置成接通或关断所述校准剂存储罐与待校准设备的进样管路之间的通路以便控制将校准剂分子释放至待校准设备的进样管路的过程;其中,所述实时校准方法包括:在待校准设备的进样过程中所述阀(107)接通预定时间,释放校准剂分子,以便校准剂分子与待检测样品分子混合并一起进入待校准设备。
10.如权利要求9所述的实时校准方法,其中所述校准装置还包括密封塞(104),配置在所述校准剂存储罐内将所述校准剂存储罐内的空间分成第一腔(1011)和第二腔(1012),并且所述密封塞包括一个或多个毛细通孔允许存储在第一腔内的校准剂分子(109)通过所述密封塞的一个或多个毛细通孔扩散至第二腔内。
11.如权利要求9所述的实时校准方法,其中所述校准装置还包括存储罐盖(105),连接至所述校准剂存储罐并覆盖所述校准剂存储罐的一端,并且所述阀通过设于所述存储罐盖的通孔与所述存储罐流体连通。
12.如权利要求10所述的实时校准方法,其中所述校准装置还包括半透膜(106),设置在所述校准剂存储罐的靠近所述阀的一端,所述半透膜与所述密封塞限定所述第二腔,所述半透膜允许所述校准剂分子从所述第二腔通过所述半透膜进入所述阀。
13.如权利要求10所述的实时校准方法,其中所述校准装置还包括校准剂胶囊(103),配置在所述第一腔内,所述校准剂胶囊包括胶囊壳体以及容纳在胶囊壳体内的校准剂,胶囊壳体允许校准剂胶囊能够向所述第一腔释放校准剂分子。
14.如权利要求10所述的实时校准方法,其中所述校准装置还包括第一O形垫圈,设置在所述密封塞和所述存储罐的内壁之间用于密封所述密封塞和所述存储罐的内壁之间的间隙。
15.如权利要求11所述的实时校准方法,其中所述校准装置还包括第二O形垫圈,设置在所述存储罐盖和所述存储罐的一端的端面之间,用于密封所述存储罐。
16.如权利要求9所述的实时校准方法,其中在待校准设备的输入待测样品分子(108)过程中,开启所述阀预定时间,释放校准剂分子,以便校准剂分子与所述待测样品分子混合并一起进入待校准设备;获取样品的测量峰位信息t x样 和校准剂峰位信息t c1 ;提取当前校准剂峰位信息t c1 与数据库中存储的参考校准剂峰位信息t c0 对比,求出参考校准剂峰位信息t c0 与当前校准剂峰位信息t c1 的比值C i =(t c0 )/(t c1 );将所述比值C i 乘以样品的测量峰位信息t x样 ,得出所述样品的校准峰位t 样 。
17.一种检测设备,包括测量装置和如权利要求1-7中任一项所述的实时校准装置,其中,所述测量装置是权利要求1所述的待校准设备,所述实时校准装置通过所述阀与所述测量装置的进样管路流体连通。
18.如权利要求17所述的检测设备,其中,在测量装置的进样过程中实时校准装置瞬间释放痕量的校准剂分子,所述痕量的校准剂分子与样品混合后一同进入测量装置,通过测量装置检测样品和所述校准剂的信息,从而实施校准。
19.如权利要求17所述的检测设备,其中,所述测量装置配置成:获取样品的测量峰位信息t x样 和校准剂峰位信息t c1 ;提取当前校准剂峰位信息t c1 与数据库中存储的参考校准剂峰位信息t c0 对比,求出参考校准剂峰位信息t c0 与当前校准剂峰位信息t c1 的比值C i =(t c0 )/(t c1 );将所述比值C i 乘以样品的测量峰位信息t x样 ,得出所述样品的校准峰位t 样 。
20.如权利要求17所述的检测设备,所述检测设备是离子迁移谱仪设备,所述测量装置是离子迁移谱仪,所述实时校准装置通过所述阀与离子迁移谱仪的进样管路流体连通。



