失效
IGZO薄膜晶体管及其制造方法
摘要
本发明涉及一种IGZO薄膜晶体管及其制造方法,所述方法包括:获取基底;通过溶液工艺在所述基底上形成IGZO层;通过自旋掺杂工艺在所述IGZO层表面掺杂V族杂质;在所述IGZO层的一侧形成源极、另一侧形成漏极,并在所述掺杂后的IGZO层上形成栅介电层;在所述栅介电层上形成栅极。本发明的IGZO层通过溶液工艺形成,并通过自旋掺杂工艺在沟道区表面掺杂V族杂质,能够提高沟道载流子浓度,从而提高器件工作电流密度;且由于掺杂采用溶液工艺,相比于离子注入等工艺不会造成IGZO层表面损伤。
暂无引用专利






