失效
痕量探测设备
摘要
本发明公开了一种痕量探测设备。所述痕量探测设备包括:盒体,所述盒体包括主体框架和顶板,所述顶板和主体框架构成全封闭的腔体;位于所述腔体内且在腔体内的第一侧的离子迁移管组件;以及位于所述腔体内且在腔体内的第二侧的前放及高压电路板,所述第二侧与第一侧相对。
暂无引用专利
本发明公开了一种痕量探测设备。所述痕量探测设备包括:盒体,所述盒体包括主体框架和顶板,所述顶板和主体框架构成全封闭的腔体;位于所述腔体内且在腔体内的第一侧的离子迁移管组件;以及位于所述腔体内且在腔体内的第二侧的前放及高压电路板,所述第二侧与第一侧相对。