1.一种安检设备，包括：设备本体，所述设备本体上设置有检测空间，所述检测空间用于容纳待测物品，所述检测空间设置成凹槽结构，具有彼此平行的第一侧壁和第二侧壁以及与第一侧壁和第二侧壁垂直的第三侧壁，所述第二侧壁用于放置待测物品；1D MIMO装置，即一维多发多收装置，设置在所述检测空间中并且位于所述检测空间的所述第一侧壁上，用于向检测空间中的待测物品发送检测信号，并接收来自待测物品的回波信号，其中所述1D MIMO装置具有长度在30-50cm范围内的1D MIMO天线阵列；以及处理器，与所述1D MIMO装置相连，用于根据ID MIMO装置接收到的回波信号来重建待测物品的图像。
2.根据权利要求1所述的安检设备，其中，所述1D MIMO装置包括：所述1D MIMO天线阵列，设置在所述检测空间中，包括排列成第一行的多个发射天线和排列成第二行的多个接收天线，所述多个发射天线和所述多个天线形成的等效相位中心排列成第三行并且以检测信号波长的二分之一等间距隔开，其中所述第一行、第二行和第三行彼此平行；以及控制电路，用于控制所述多个发射天线按照预设顺序发射所述检测信号，以及控制所述多个接收天线接收所述回波信号。
3.根据权利要求2所述的安检设备，其中，所述多个发射天线等间距隔开，所述多个接收天线等间距隔开，相邻两个发射天线之间的距离是相邻两个接收天线之间的距离的整数倍。
4.根据权利要求2所述的安检设备，其中，所述多个发射天线包括以等间距隔开的多个发射天线组，所述多个接收天线等间距隔开，相邻两个发射天线组之间的距离大于相邻两个接收天线之间的距离。
5.根据权利要求4所述的安检设备，其中，每个发射天线组包括两个发射天线，所述两个发射天线之间的距离是检测信号的波长的整数倍。
6.根据权利要求2所述的安检设备，其中，所述1D MIMO天线阵列为具有阵列周期的周期稀疏互质阵列，所述多个发射天线等间距隔开，所述多个接收天线等间距隔开，相邻两个发射天线之间的距离大于相邻两个接收天线之间的距离，并且在所述阵列周期内发射天线的数目与接收天线的数目互质。
7.根据权利要求2所述的安检设备，其中，所述第一行与第二行之间的距离小于所述1DMIMO天线阵列的成像距离的10％。
8.根据权利要求2所述的安检设备，还包括：平移装置，安装在所述设备本体上，用于在所述1D MIMO天线阵列所在的平面内沿着垂直于所述第一行、第二行和第三行的方向平移所述1D MIMO天线阵列。
9.根据权利要求2所述的安检设备，还包括：升降装置，安装在所述设备本体上，用于控制所述1D MIMO天线阵列远离或靠近所述待测物品移动。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的安检设备，还包括：背板，所述背板设置在检测空间中，位于待测物品下方，用于将穿过待测物品到达所述背板的检测信号反射回所述1DMIMO装置。
11.根据权利要求10所述的安检设备，其中，所述背板包括金属板或具有金属涂层的板状物。
12.根据权利要求1至9中任一项所述的安检设备，还包括：传送装置，设置成穿过所述检测空间，用于传送待测物品以使待测物品进入或离开所述检测空间。
13.根据权利要求1至9中任一项所述的安检设备，还包括：显示装置，与所述处理器相连，用于向用户呈现所重建的待测物品的图像。
14.根据权利要求1至9中任一项权利要求所述的安检设备，其中，所述检测信号为毫米波。
