1.一种用于毫米波/太赫兹波成像设备的反射板调节装置，包括：支撑件和连接件，所述反射板与所述连接件可转动地连接，以使得所述反射板依次对被检对象位于视场沿第一方向上的不同位置的部分自发辐射或反射回来的波束进行反射；所述连接件与所述支撑件可转动地连接，以使得所述反射板对所述被检对象位于所述视场沿垂直于所述第一方向的第二方向上的不同位置的部分自发辐射或反射回来的波束进行反射，以使得所述反射板对所述被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波进行反射的轨迹包络为类圆形或类椭圆形，且采样密集点集中在所述视场的中间部分。
2.根据权利要求1所述的反射板调节装置，其中，所述连接件呈环形，所述反射板位于所述连接件的内侧，并通过第一转轴与所述连接件可转动地连接。
3.根据权利要求2所述的反射板调节装置，其中，所述第一转轴的数量为两个，两个所述第一转轴的轴线重合。
4.根据权利要求2所述的反射板调节装置，其中，还包括用于驱动所述第一转轴转动的第一驱动装置。
5.根据权利要求1所述的反射板调节装置，其中，所述支撑件呈环形，所述连接件位于所述支撑件的内侧，并通过第二转轴与所述支撑件可转动地连接。
6.根据权利要求5所述的反射板调节装置，其中，所述第二转轴的数量为两个，两个所述第二转轴的轴线重合。
7.根据权利要求5所述的反射板调节装置，其中，还包括用于驱动所述第二转轴转动的第二驱动装置。
8.根据权利要求1所述的反射板调节装置，其中，所述第一方向为水平方向和竖直方向中的一个，所述第二方向为所述水平方向和所述竖直方向中的另一个。
9.根据权利要求1-8中任一项所述的反射板调节装置，其中，所述反射板在所述第一方向上的转动角度为±30°，所述反射板在所述第二方向上的转动角度为±30°。
10.一种毫米波/太赫兹波成像设备，包括：准光学组件、毫米波/太赫兹波探测器阵列和反射板调节装置，所述准光学组件适用于将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至所述毫米波/太赫兹波探测器阵列，并包括适用于接收并反射来自被检对象的毫米波/太赫兹波的反射板；所述毫米波/太赫兹波探测器阵列适用于接收来自所述准光学组件的毫米波/太赫兹波；以及所述反射板调节装置采用如权利要求1-9中任一项所述的反射板调节装置，以使得所述反射板对所述被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波进行反射的轨迹包络为类圆形或类椭圆形，且采样密集点集中在所述视场的中间部分。
11.根据权利要求10所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，还包括聚焦透镜，所述聚焦透镜设置在被检对象和所述反射板之间或设置在所述反射板和所述毫米波/太赫兹波探测器阵列之间。
12.根据权利要求10所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，所述毫米波/太赫兹波探测器阵列呈环形或环带形排布。
13.根据权利要求12所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，所述环形或环带形包括圆形环或圆形环带、椭圆形环或椭圆形环带、多边形环或多边形环带中的至少一种。
14.根据权利要求13所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，所述多边形包括正菱形、扁菱形、长方形中的至少一种。
15.根据权利要求13所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，所述毫米波/太赫兹波探测器阵列中的多个探测器均匀排布在所述环形或环带形上。
16.根据权利要求13所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，所述毫米波/太赫兹波探测器阵列中的多个探测器在视场法向或垂直于所述视场法向的方向上的投影是均匀排布的。
17.根据权利要求10所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，所述毫米波/太赫兹波探测器阵列呈线性排布。
18.根据权利要求10-17中任一项所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，所述反射板是平面的。
19.根据权利要求10-17中任一项所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，所述反射板是菲涅尔反射镜或抛物面反射镜。
20.根据权利要求10-17中任一项所述的毫米波/太赫兹波成像设备，其中，还包括：数据处理装置，所述数据处理装置与所述毫米波/太赫兹波探测器阵列连接以接收来自所述毫米波/太赫兹波探测器阵列的对于被检对象的扫描数据并生成毫米波/太赫兹波图像；和显示装置，所述显示装置与所述数据处理装置相连接，用于接收和显示来自数据处理装置的毫米波/太赫兹波图像。
