一种开关量输入信号的处理方法

1.一种开关量输入信号的处理方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤A：通过AD采样获取开关量输入信号模拟量以及开关量输入板卡的温度；步骤B：根据开关量输入板卡的温度以及光耦电路实际导通时间，采用热积累模型获得光耦器件的实时温度；光耦器件的实时温度采用如下公式计算：其中，Δt为CPU板卡AD芯片的采样间隔；θ N 为N×Δt时刻的光耦器件实际温度；θ N-1 为(N-1)×Δt时刻的光耦器件实际温度；θ A 为温度传感器测量的开关量输入板卡的温度；P为光耦器件的功耗；R h 为光耦器件的热阻；C h 为光耦器件的热容量；步骤C：根据光耦器件的实时温度修正开关量动作门槛值及返回门槛值，计算开关量输入信号的数字量。 2.根据权利要求1所述的开关量输入信号的处理方法，其特征在于，所述步骤C中，比较光耦器件的实时温度变化幅度是否大于设定值；如果实时温度变化幅度大于设定值，对开关量动作门槛值及返回门槛值进行修正；如果实时温度变化幅度小于设定值，则不修正开关量动作门槛值及返回门槛值。 3.根据权利要求1所述的开关量输入信号的处理方法，其特征在于，所述方法中开关量输入信号及开关量输入板卡温度测量信号各通道都采用双AD采样，并对各通道双AD采样结果进行校验，若发现双AD采样结果不一致，根据采样通道号，发出开关量输入信号采样异常报警或温度信号采样异常报警。 4.根据权利要求1所述的开关量输入信号的处理方法，其特征在于，所述步骤C中，根据光耦器件实时温度值，参考光耦特性曲线，对非易失性存储器中存储的开关量动作门槛值及返回门槛值进行修正，最后将开关量输入信号AD的采样值与修正后的开关量动作门槛值与返回门槛值进行比较，若采样值大于动作门槛值，则将开关量输入信号置1，若采样值小于返回门槛值，则将开关量输入信号置0。