1.一种判断废电路板样品中各金属品位的方法，其特征在于，具体步骤如下：1)选取废电路板样品，拆除样品中的大件金属，按材料性质分类收集称重，并分别记录重量数据；2)将拆除大件金属后的电路板样品，经过破碎机进行预破碎至颗粒状；3)随机取步骤2)破碎后的颗粒样品称重后进行再粉碎至粒度小于3mm，使其中的金属和非金属完全解离；4)将步骤3)粉碎后的颗粒通过气流分选，使金属和非金属物料分离，其中：金属分选纯度要求达到97％～99％，分选过程物料损耗小于3％，并对收集的金属和非金属物料分别称重，并分别记录重量数据；5)非金属类物料在分选过程中，按照时间间隔进行取样，并均匀缩分样品，样品直接研磨过0.2mm标准筛；6)将上述4)收集称重的金属类物料入中频炉经熔融后制铜锭、铜渣样品；7)通过化验分析上述5)和6)步骤所得样品成分品位数据分别记录；8)用以下计算公式计算电路板中各金属的品位：α＝(β 1 ×γ 1 +β 2 ×γ 2 )×γ 3 ；公式中：α—废电路板的金属品位；β 1 和β 2 —分别为废电路板样品气流分选后金属和非金属物料中的金属品位；γ 1 、γ 2 —分别为废电路板样品气流分选后的金属、非金属的重量百分比；γ 3 —拆除大件金属后的电路板废品样品所占的重量百分比；分选后金属物料中的金属品位β 1 按照以下公式计算：β 1 ＝(m A ×β A +m B ×β B +m C ×β C )/m；公式中：β A 、β B 、β C 分别表示金属类物料中频熔铸后铜锭、铜渣研磨筛上、铜渣研磨筛下三个样品的金属成分品位；m A —金属类物料中频熔铸后清除铜渣后的铜锭重量；m B —金属类物料中频熔铸后铜渣研磨筛上部分的铜渣重量；m C —金属类物料中频熔铸后铜渣研磨筛下部分的铜渣重量；m—气流分选后收集的金属物料即金属样品入炉时的重量。
2.根据权利要求1所述的判断废电路板样品中各金属品位的方法，其特征在于：所述大件金属为铁件或铝件。
3.根据权利要求1所述的判断废电路板样品中各金属品位的方法，其特征在于：所述步骤6)金属类物料中频熔铸的步骤如下：1)将坩埚预热5分钟后取出，将金属物料样品标记为m并装入已预热的坩埚中，进行熔融作业；2)金属物料全部熔化后，关闭中频炉电源，将铜水倒入预热的模具中，待固化成铜锭后，将铜锭倒出、冷却；3)趁热将坩埚壁上粘附的铜渣铲出，用钢丝刷清除铜锭表面铜渣，铜锭称重标记、标样；4)铜锭钻取样屑，放入粉碎机内研磨后筛分、装袋、标样；铜渣研磨后分筛上、下装袋分别标样、称重标记。
4.根据权利要求1所述的判断废电路板样品中各金属品位的方法，其特征在于：所述步骤3)的颗粒样品可取平行样样品分别进行再粉碎，并分别按所述步骤4)～8)获得数组废电路板样品中的金属成分检测数据。
