有效
一种超短激光脉冲测量装置
夏
夏彦文 专利 55
中国工程物理研究院激光聚变研究中心傅
傅学军 专利 84
北京宇航系统工程研究所卢
卢宗贵 专利 35
中国工程物理研究院激光聚变研究中心孙
孙志红 专利 51
中国工程物理研究院激光聚变研究中心董
董军 专利 35
中国工程物理研究院激光聚变研究中心刘
刘华 专利 41
中国工程物理研究院激光聚变研究中心张
张波 专利 40
中国工程物理研究院激光聚变研究中心元
元浩宇 专利 33
中国工程物理研究院激光聚变研究中心吕
吕嘉坤 专利 18
中国工程物理研究院激光聚变研究中心郑
郑奎兴 专利 199
中国工程物理研究院激光聚变研究中心粟
粟敬钦 专利 205
中国工程物理研究院激光聚变研究中心彭
彭志涛 专利 114
哈尔滨工业大学摘要
本实用新型公开了一种超短激光脉冲测量装置。所述的测量装置中,被测的水平偏振的空间均匀的超短基频激光脉冲经过分光镜后分成透射光和反射光,透射光再分成两束,以水平对称角度入射到晶体Ⅰ,产生的垂直偏振的自相关倍频信号经导光镜组等比例放大成像并实现90度偏转,偏转的倍频光束与基频光束入射到晶体Ⅱ上进行和频,产生双延迟的三阶强度相关信号,从而获得脉冲波形信息。本实用新型提高了在超短激光脉冲测量中的时间分辨力,本实用新型的测量装置结构紧凑,调节方便、成本低。
暂无引用专利



