1.一种一维纳米材料的观测方法，其特征在于，包括以下步骤：提供一待测一维纳米材料，所述一维纳米材料为碳纳米管；将所述待测一维纳米材料浸没于耦合液中；提供一第一入射光以及一第二入射光同时照射所述待测一维纳米材料，该待测一维纳米材料在所述第一入射光与所述第二入射光的照射下发生共振瑞利散射，所述第一入射光与所述第二入射光具有连续光谱且入射方向互不平行；以及利用光学显微镜观测发生共振瑞利散射的待测一维纳米材料。
2.如权利要求1所述的一维纳米材料的观测方法，其特征在于，进一步包括：获取发生共振瑞利散射的待测一维纳米材料的光谱信息，根据该光谱信息计算所述待测一维纳米材料的手性指数。
3.如权利要求1所述的一维纳米材料的观测方法，其特征在于，所述碳纳米管的形态结构表现为不规则的曲线。
4.如权利要求1所述的一维纳米材料的观测方法，其特征在于，所述碳纳米管为单壁碳纳米管。
5.如权利要求1所述的一维纳米材料的观测方法，其特征在于，所述待测一维纳米材料水平排列于一基底的表面。
6.如权利要求5所述的一维纳米材料的观测方法，其特征在于，所述第一入射光与所述基底的表面的夹角a1的范围为大于45°且小于90°，所述第二入射光与所述基底的表面的夹角a2的范围为大于45°且小于90°。
7.如权利要求6所述的一维纳米材料的观测方法，其特征在于，a1＝a2。
8.如权利要求6或7所述的一维纳米材料的观测方法，其特征在于，所述第一入射光与所述第二入射光相互垂直。
9.如权利要求1所述的一维纳米材料的观测方法，其特征在于，所述第一入射光、所述第二入射光分别通过以下三种耦合方式中的一种耦合方式照射所述待测一维纳米材料：方式一，入射光通过光纤耦合到所述待测一维纳米材料的表面；方式二，入射光通过一透明多面体入射到所述待测一维纳米材料的表面，所述透明多面体包括入射面以及出射面，所述入射光经由所述入射面进入所述透明多面体并射向所述待测一维纳米材料，所述待测一维纳米材料设置于所述出射面；方式三，入射光通过一承载装置入射到所述待测一维纳米材料的表面，所述承载装置包括底壁与侧壁，所述底壁与所述侧壁共同形成一第一腔体，用于容纳所述待测一维纳米材料及耦合液，所述待测一维纳米材料设置于所述底壁，所述侧壁包括至少一透明部，所述入射光通过该透明部射向所述待测一维纳米材料。
10.如权利要求1所述的一维纳米材料的观测方法，其特征在于，包括以下步骤：向所述待测一维纳米材料表面通入蒸气，记录所述待测一维纳米材料在光学显微镜下所成的影像并根据该影像获取所述待测一维纳米材料的延伸方向。
