失效
一种压接式IGBT子模组和IGBT模块封装结构
摘要
本实用新型的实施例提供一种压接式IGBT子模组和IGBT模块封装结构,涉及电力技术领域,能够降低因IGBT子模组个数较多时因弹簧针接触不良而造成的失效概率。IGBT子模组,包括:IGBT芯片;发射极钼片,所述发射极钼片的一面与所述IGBT芯片的发射极的部分相接触;集电极钼片,所述集电极钼片的一面与所述IGBT芯片的集电极接触;栅极连接件,所述栅极连接件的一端为自由端,并与所述IGBT芯片的栅极接触;定位件,用于固定所述IGBT芯片、所述发射极钼片、所述集电极钼片和所述栅极连接件;所述栅极连接件的另一端固定连接于所述IGBT模块封装结构的PCB电路板上。
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