用于对辐射图像进行质量评价的方法和系统

1.一种用于对辐射图像进行质量评价的方法，包括：选择多个基准辐射图像，并且针对所述多个基准辐射图像中的每一个基准辐射图像的特定区域进行以下处理：计算归一化的灰度共生矩阵；以及根据所述归一化的灰度共生矩阵，计算特征参数；根据所述多个基准辐射图像的特征参数，计算所述多个基准辐射图像的特征参数的统计特征参数；计算待评价辐射图像的特定区域的归一化的灰度共生矩阵；根据所述待评价辐射图像的归一化的灰度共生矩阵计算所述待评价辐射图像的特征参数；以及根据所述多个基准辐射图像的特征参数的统计特征参数以及所述待评价辐射图像的特征参数计算偏差，所述偏差用于表征所述待评价辐射图像的质量；其中，根据所述多个基准辐射图像的特征参数的统计特征参数以及所述待评价辐射图像的特征参数计算所述偏差包括：根据下式计算所述偏差：其中，d是所述偏差，asm mu ,contrast mu ,和e mu 分别是所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的均值，asm cov ,contrast cov 和e cov 分别是所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的标准差，以及asm d ,contrast d ,和e d 分别是所述待评价辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量。 2.根据权利要求1所述的方法，其中，当所述多个基准辐射图像的特征参数服从正态分布时，根据所述多个基准辐射图像的特征参数，计算所述多个基准辐射图像的特征参数的统计特征参数包括：根据所述多个基准辐射图像的特征参数，计算所述多个基准辐射图像的特征参数的均值和标准差。 3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述特征参数包括角二阶矩、对比度和边缘信号能量。 4.根据权利要求1或3所述的方法，其中，根据所述多个基准辐射图像的特征参数，计算所述多个基准辐射图像的特征参数的均值包括：根据下式计算所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的均值：其中，asm mu ,contrast mu ,和e mu 分别是所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的均值，asm n ,contrast n ,和e n 分别是所述多个基准辐射图像中的基准辐射图像n的角二阶矩、对比度和边缘信号能量，n＝1…N，N是基准辐射图像的总数。 5.根据权利要求1或3所述的方法，其中，根据所述多个基准辐射图像的特征参数，计算所述多个基准辐射图像的特征参数的标准差包括：根据下式计算所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的标准差：其中，asm cov ,contrast cov ,和e cov 分别是所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的标准差，asm mu ,contrast mu ,和e mu 分别是所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的均值，asm n ,contrast n ,和e n 分别是所述多个基准辐射图像中的基准辐射图像n的角二阶矩、对比度和边缘信号能量，n＝1…N，N是基准辐射图像的总数。 6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述特定区域是内容稳定且视觉显著性高的区域。 7.一种用于对辐射图像进行质量评价的系统，包括：处理器，被配置为执行程序指令以进行以下操作：选择多个基准辐射图像，并且针对所述多个基准辐射图像中的每一个基准辐射图像的特定区域进行以下处理：计算归一化的灰度共生矩阵；以及根据所述归一化的灰度共生矩阵，计算特征参数；根据所述多个基准辐射图像的特征参数，计算所述多个基准辐射图像的特征参数的统计特征参数；计算待评价辐射图像的特定区域的归一化的灰度共生矩阵；根据所述待评价辐射图像的归一化的灰度共生矩阵计算所述待评价辐射图像的特征参数；以及根据所述多个基准辐射图像的特征参数的统计特征参数以及所述待评价辐射图像的特征参数计算偏差，所述偏差用于表征所述待评价辐射图像的质量；以及存储器，被配置为存储所述程序指令；其中，所述处理器还被配置为：根据下式计算所述偏差：其中，d是所述偏差，asm mu ,contrast mu ,和e mu 分别是所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的均值，asm cov ,contrast cov 和e cov 分别是所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的标准差，以及asm d ,contrast d ,和e d 分别是所述待评价辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量。 8.根据权利要求7所述的系统，其中，当所述多个基准辐射图像的特征参数服从正态分布时，所述处理器还被配置为：根据所述多个基准辐射图像的特征参数，计算所述多个基准辐射图像的特征参数的均值和标准差。 9.根据权利要求8所述的系统，其中，所述特征参数包括角二阶矩、对比度和边缘信号能量。 10.根据权利要求7或9所述的系统，其中，所述处理器还被配置为：根据下式计算所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的均值：其中，asm mu ,contrast mu ,和e mu 分别是所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的均值，asm n ,contrast n ,和e n 分别是所述多个基准辐射图像中的基准辐射图像n的角二阶矩、对比度和边缘信号能量，n＝1…N，N是基准辐射图像的总数。 11.根据权利要求7或9所述的系统，其中，所述处理器还被配置为：根据下式计算所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的标准差：其中，asm cov ,contrast cov ,和e cov 分别是所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的标准差，asm mu ,contrast mu ,和e mu 分别是所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的均值，asm n ,contrast n ,和e n 分别是所述多个基准辐射图像中的基准辐射图像n的角二阶矩、对比度和边缘信号能量，n＝1…N，N是基准辐射图像的总数。 12.根据权利要求7所述的系统，其中，所述特定区域是内容稳定且视觉显著性高的区域。 13.一种计算机可读介质，包括在由处理器执行时执行包括以下各项的操作的指令：选择多个基准辐射图像，并且针对所述多个基准辐射图像中的每一个基准辐射图像的特定区域进行以下处理：计算归一化的灰度共生矩阵；以及根据所述归一化的灰度共生矩阵，计算特征参数；根据所述多个基准辐射图像的特征参数，计算所述多个基准辐射图像的特征参数的统计特征参数；计算待评价辐射图像的特定区域的归一化的灰度共生矩阵；根据所述待评价辐射图像的归一化的灰度共生矩阵计算所述待评价辐射图像的特征参数；以及根据所述多个基准辐射图像的特征参数的统计特征参数以及所述待评价辐射图像的特征参数计算偏差，所述偏差用于表征所述待评价辐射图像的质量；其中，根据所述多个基准辐射图像的特征参数的统计特征参数以及所述待评价辐射图像的特征参数计算所述偏差包括：根据下式计算所述偏差：其中，d是所述偏差，asm mu ,contrast mu ,和e mu 分别是所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的均值，asm cov ,contrast cov 和e cov 分别是所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的标准差，以及asm d ,contrast d ,和e d 分别是所述待评价辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量。 14.根据权利要求13所述的计算机可读介质，其中，当所述多个基准辐射图像的特征参数服从正态分布时，根据所述多个基准辐射图像的特征参数，计算所述多个基准辐射图像的特征参数的统计特征参数包括：根据所述多个基准辐射图像的特征参数，计算所述多个基准辐射图像的特征参数的均值和标准差。 15.根据权利要求14所述的计算机可读介质，其中，所述特征参数包括角二阶矩、对比度和边缘信号能量。 16.根据权利要求13或15所述的计算机可读介质，其中，根据所述多个基准辐射图像的特征参数，计算所述多个基准辐射图像的特征参数的均值包括：根据下式计算所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的均值：其中，asm mu ,contrast mu ,和e mu 分别是所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的均值，asm n ,contrast n ,和e n 分别是所述多个基准辐射图像中的基准辐射图像n的角二阶矩、对比度和边缘信号能量，n＝1…N，N是基准辐射图像的总数。 17.根据权利要求13或15所述的计算机可读介质，其中，根据所述多个基准辐射图像的特征参数，计算所述多个基准辐射图像的特征参数的标准差包括：根据下式计算所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的标准差：其中，asm cov ,contrast cov ,和e cov 分别是所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的标准差，asm mu ,contrast mu ,和e mu 分别是所述多个基准辐射图像的角二阶矩、对比度和边缘信号能量的均值，asm n ,contrast n ,和e n 分别是所述多个基准辐射图像中的基准辐射图像n的角二阶矩、对比度和边缘信号能量，n＝1…N，N是基准辐射图像的总数。 18.根据权利要求13所述的计算机可读介质，其中，所述特定区域是内容稳定且视觉显著性高的区域。