一种基于偏振散射特征的颗粒物形态测量方法和装置

本发明公开了一种基于偏振散射特征的颗粒物形态测量方法和装置，该方法包括以下步骤：探测当前颗粒物对激光散射后的散射光，其中对70‑110度范围内的特定散射角度θ下的散射偏振光进行测量；提取散射光的偏振通道电压，计算散射光的Stokes矢量，根据Stokes矢量得到Mueller矩阵M中的元素a2(θ)、b1(θ)、a1(θ)、b1(θ)，并通过对元素a2(θ)、b1(θ)、a1(θ)、b1(θ)的计算，得到特征偏振参量K2；根据K2的值分析和确定颗粒物形态。本发明操作简单快捷，测量范围广，局限性小，减少了探测器的数量，降低了成本。