一种GIS局部放电光学特高频联合检测方法

本发明涉及一种GIS局部放电光学特高频联合检测方法。其特点是，包括如下步骤：1)将光电倍增管放置在GIS的观察窗处；2)将外置式特高频传感器放置在紧邻步骤1)所述的观察窗的盆式绝缘子处；3)通过步骤1)的光电倍增管和步骤2)的外置式特高频传感器两者同时进行检测，根据检测结果判定局部放电是否发生在观察窗所在气室。经过试用证明，本发明的检测方法充分发挥了光学检测抗干扰性能强，特高频检测范围广的优点，可实现GIS局部放电的准确现场检测。