1.一种用于智能划分能区的探测系统，所述探测系统包括：探测器，配置为采集从探测对象透射的射线，产生探测信号，其中所述探测器的每一像素列包括一个A类电极和多个B类电极，且沿探测对象的移动方向依次布置所述A类电极和所述B类电极，使得从探测对象透射的射线先进入A类电极，随后进入B类电极；信号处理装置，包括：第一处理模块，配置为接收并处理探测信号，并根据用于能区划分的一个或多个阈值，计算每个能区中的信号数目；以及第二处理模块，配置为从第一处理模块接收计算结果，并将其传送至上位机；以及上位机，配置为基于与A类电极对应的探测信号，得到探测对象的图像数据，并基于图像数据估计探测对象的物质成分；以及根据所估计的物质成分，控制第二处理模块调整所述用于能区划分的一个或多个阈值，以智能划分能区；所述上位机还配置为：基于与A类电极对应的探测信号，输出图像数据，以及基于与B类电极对应的探测信号，执行物质识别。
2.根据权利要求1所述的探测系统，其中所述探测器还包括导向电极或保护电极，布置在各电极之间。
3.根据权利要求1所述的探测系统，其中与所述A类电极相对应的A类像素至少具有1个能区。
4.根据权利要求1所述的探测系统，其中与所述多个B类电极相对应的每个B类像素至少具有3个能区。
5.根据权利要求4所述的探测系统，其中所述每个B类像素的能区划分是相同的。
6.根据权利要求4所述的探测系统，其中所述每个B类像素的能区划分是不同的。
7.根据权利要求1所述的探测系统，其中所述上位机还配置为：基于与A类和B类电极对应的探测信号，输出图像数据。
8.一种用于智能划分能区的探测方法，包括：由探测器采集从探测对象透射的射线，产生探测信号，所述探测器的每一像素列包括一个A类电极和多个B类电极，且沿探测对象的移动方向依次布置所述A类电极和所述B类电极，使得从探测对象透射的射线先进入A类电极，随后进入B类电极；基于与A类电极对应的探测信号，得到探测对象的图像数据，并基于图像数据估计探测对象的物质成分；根据所估计的物质成分，调整用于能区划分的一个或多个阈值；以及根据所调整后的阈值来确定与B类电极对应的探测信号的能区，并计算在每个能区中的信号数目。
