1.一种测量纳米结构表面电荷分布的方法，包括以下步骤：S1，提供一待测样品，所述待测样品具有纳米结构，该待测样品设置于一绝缘基底表面；S2，向该待测样品表面喷射第一带电纳米微粒；S3，向该待测样品表面通入蒸气，利用光学显微镜观测所述第一带电纳米微粒在所述待测样品周边的分布情况，若所述第一带电纳米微粒在所述待测样品处形成一暗线，则记录该暗线的宽度并执行步骤S6，否则执行步骤S4；S4，向该待测样品表面喷射第二带电纳米微粒，该第二带电纳米微粒与所述第一带电纳米颗粒电性相反；S5，向该待测样品表面通入蒸气，记录所述第二带电纳米微粒在所述待测样品处形成的暗线的宽度；以及S6，根据公式 计算所述待测样品的电压，其中w为暗线宽度，U为所述待测样品的电压，F c 为带电纳米微粒喷射气流在基底处产生的压力，U 0 为阈值电压，D为基底介质层厚度，d为待测样品直径，ε r 为基底介质层介电常数。
2.如权利要求1所述的测量纳米结构表面电荷分布的方法，其特征在于，所述待测样品为零维纳米材料或一维纳米材料中的至少一种。
3.如权利要求2所述的测量纳米结构表面电荷分布的方法，其特征在于，所述待测样品为碳纳米管。
4.如权利要求1所述的测量纳米结构表面电荷分布的方法，其特征在于，所述绝缘基底的表面形成有厚度1微米二氧化硅层。
5.如权利要求1所述的测量纳米结构表面电荷分布的方法，其特征在于，所述带电纳米微粒的直径为0.5nm-5nm。
6.如权利要求5所述的测量纳米结构表面电荷分布的方法，其特征在于，所述带电纳米微粒为不易升华的晶体。
7.如权利要求5所述的测量纳米结构表面电荷分布的方法，其特征在于，所述带电纳米微粒为带电葡萄糖纳米微粒、带电蔗糖纳米微粒或带电金属盐纳米微粒。
8.如权利要求7所述的测量纳米结构表面电荷分布的方法，其特征在于，所述葡萄糖纳米微粒的制备方法为：S21，提供一葡萄糖溶液；S22，将该葡萄糖溶液雾化，形成包含有葡萄糖的微小液滴；S23，将该包含有葡萄糖的微小液滴通过平行且间隔设置的第一电极与第二电极，该第一电极与第二电极表面均存在通孔以使所述微小液滴自由通过，该第一电极与该第二电极之间的电压范围为1000V～2000V。
9.如权利要求1所述的测量纳米结构表面电荷分布的方法，其特征在于，所述蒸气为水蒸气。
10.如权利要求1所述的测量纳米结构表面电荷分布的方法，其特征在于，执行步骤S4之前利用去离子水清洗所述绝缘基底表面的第一带电纳米微粒。
11.一种测量纳米结构表面电荷分布的方法，其特征在于，包括以下步骤：S11，提供一待测样品，该待测样品具有纳米结构；S12，提供一光学显微镜系统，该光学显微镜系统包括一光学显微镜及光学显微镜的辅助装置,该光学显微镜包括物镜以及载物台，该光学显微镜的辅助装置包括一鼓气部、一蒸气发生部以及一导汽管，所述鼓气部与所述蒸气发生部的一端相互连接，所述蒸气发生部的另一端与所述导汽管连接，所述鼓气部向所述蒸气发生部通入气体，从而将所述蒸气发生部产生的蒸气带入导汽管中；S13，将所述待测样品放置在所述载物台上，向该待测样品表面均匀的喷射第一带电纳米微粒；S14，利用所述光学显微镜的辅助装置向所述待测样品表面通入蒸气，同时利用所述光学显微镜观测所述第一带电纳米微粒在所述待测样品周边的分布情况，若所述第一带电纳米微粒在所述待测样品处形成一暗线，则记录该暗线的宽度并执行步骤S17，否则执行步骤S15；S15，向该待测样品表面均匀的喷射第二带电纳米微粒，该第二带电纳米微粒与所述第一带电纳米颗粒电性相反；S16，向该待测样品表面通入蒸气，记录所述第二带电纳米微粒在所述待测样品处形成的暗线的宽度；S17，根据公式 计算所述待测样品的电压，其中w为暗线宽度，U为所述待测样品的电压，F c 为带电纳米微粒喷射气流在基底处产生的压力，U 0 为阈值电压，D为基底介质层厚度，d为待测样品直径，ε r 为基底介质层介电常数。
