1.一种高能双能X射线CT材料分解方法，包括步骤：对被检查物体进行双能X射线CT扫描，得到高能投影数据和低能投影数据；针对所述高能投影数据和低能投影数据进行双能基材料分解，得到基材料分解系数；将所述基材料分解系数作为初值，计算被检查物体的每个像素的等效原子序数和电子密度；根据每个像素的等效原子序数和电子密度，计算光电效应所对应的质量衰减系数；利用光电效应所对应的质量衰减系数对所述高能投影数据和低能投影数据进行修正，以消除所述高能投影数据和低能投影数据中与光电效应所对应的部分；以及利用修正后的高能和低能投影数据进行双能基材料分解，得到与康普顿效应和电子对效应对应的原子序数图像和电子密度图像。
2.如权利要求1所述的方法，其中利用修正后的高能和低能投影数据进行双能基材料分解，得到与康普顿效应和电子对效应对应的原子序数图像和电子密度图像的步骤包括：利用修正后的高能和低能投影数据得到更新的基材料分解系数；在满足迭代标准的情况下，利用更新的基材料分解系数计算得到与康普顿效应和电子对效应对应的原子序数图像和电子密度图像。
3.如权利要求2所述的方法，其中利用滤波反投影或ART迭代算法得到更新的基材料分解系数。
4.一种低能双能X射线CT材料分解方法，包括步骤：对被检查物体进行双能X射线CT扫描，得到高能投影数据和低能投影数据；针对所述高能投影数据和低能投影数据进行双能基材料分解，得到基材料分解系数；将所述基材料分解系数作为初值，计算被检查物体的每个像素的等效原子序数和电子密度；根据每个像素的等效原子序数和电子密度，计算瑞利散射效应所对应的质量衰减系数；利用瑞利散射效应所对应的质量衰减系数对所述高能投影数据和低能投影数据进行修正，以消除所述高能投影数据和低能投影数据中与瑞利散射效应所对应的部分；以及利用修正后的高能和低能投影数据进行双能基材料分解，得到与康普顿效应和光电效应对应的原子序数图像和电子密度图像。
5.如权利要求4所述的方法，其中利用修正后的高能和低能投影数据进行双能基材料分解，得到与康普顿效应和光电效应对应的原子序数图像和电子密度图像的步骤包括：利用修正后的高能和低能投影数据得到更新的基材料分解系数；在满足迭代标准的情况下，利用更新的基材料分解系数计算得到与康普顿效应和光电效应对应的原子序数图像和电子密度图像。
6.如权利要求5所述的方法，其中利用滤波反投影或ART迭代算法得到更新的基材料分解系数。
7.一种用于高能双能X射线CT材料分解的系统，包括：对被检查物体进行双能X射线CT扫描，得到高能投影数据和低能投影数据的装置；针对所述高能投影数据和低能投影数据进行双能基材料分解，得到基材料分解系数的装置；将所述基材料分解系数作为初值，计算被检查物体的每个像素的等效原子序数和电子密度的装置；根据每个像素的等效原子序数和电子密度，计算光电效应所对应的质量衰减系数的装置；利用光电效应所对应的质量衰减系数对所述高能投影数据和低能投影数据进行修正，以消除所述高能投影数据和低能投影数据中与光电效应所对应的部分的装置；以及利用修正后的高能和低能投影数据进行双能基材料分解，得到与康普顿效应和电子对效应对应的原子序数图像和电子密度图像的装置。
8.如权利要求7所述的系统，其中利用修正后的高能和低能投影数据进行双能基材料分解，得到与康普顿效应和电子对效应对应的原子序数图像和电子密度图像的装置包括：利用修正后的高能和低能投影数据得到更新的基材料分解系数的装置；在满足迭代标准的情况下，利用更新的基材料分解系数计算得到与康普顿效应和电子对效应对应的原子序数图像和电子密度图像的装置。
9.一种用于低能双能X射线CT材料分解的系统，包括：对被检查物体进行双能X射线CT扫描，得到高能投影数据和低能投影数据的装置；针对所述高能投影数据和低能投影数据进行双能基材料分解，得到基材料分解系数的装置；将所述基材料分解系数作为初值，计算被检查物体的每个像素的等效原子序数和电子密度的装置；根据每个像素的等效原子序数和电子密度，计算瑞利散射效应所对应的质量衰减系数的装置；利用瑞利散射效应所对应的质量衰减系数对所述高能投影数据和低能投影数据进行修正，以消除所述高能投影数据和低能投影数据中与瑞利散射效应所对应的部分的装置；以及利用修正后的高能和低能投影数据进行双能基材料分解，得到与康普顿效应和光电效应对应的原子序数图像和电子密度图像的装置。
10.如权利要求9所述的系统，其中利用修正后的高能和低能投影数据进行双能基材料分解，得到与康普顿效应和光电效应对应的原子序数图像和电子密度图像的装置包括：利用修正后的高能和低能投影数据得到更新的基材料分解系数的装置；在满足迭代标准的情况下，利用更新的基材料分解系数计算得到与康普顿效应和光电效应对应的原子序数图像和电子密度图像的装置。
