失效

一种检测半轴齿轮花键孔形位公差的检具

冯文茂、刘建
四川众友机械有限责任公司
冯文茂机构 暂无
技术领域 暂无
刘建机构 暂无
技术领域 暂无

摘要

本实用新型涉及齿轮加工,具体涉及一种检测半轴齿轮花键孔形位公差的检具。目的在于提供一种高效的检测半轴齿轮花键孔形位公差的检具。本实用新型所采用的技术方案是:一种检测半轴齿轮花键孔形位公差的检具,包括底座,所述底座的上端面设置有圆柱形的盲孔;所述盲孔与底座的上端面垂直,盲孔高度大于或等于标准的半轴齿轮轴颈高度,且盲孔中心设置有与盲孔同轴的定位芯轴,所述定位芯轴上套设有外花键套;所述外花键套的内孔与定位芯轴过渡配合,其上的花键参数与标准的半轴齿轮的花键孔参数相配合。该检具能直观的检测出花键孔内的花键的合格性,半轴齿轮的轴颈对花键孔的同轴度及安装面对花键孔的垂直度三大指标。

暂无引用专利