一种面向智能电表嵌入式应用的测试方法

本发明涉及一种面向智能电表嵌入式应用的测试方法，其包括对存储芯片单元和计量芯片单元的相关测试方法。存储芯片单元的测试包括：存储芯片对不同数据的分块存储，EEPROM不能写时的存储策略；智能电表重要数据是否有备份；存储器重要数据被破坏可否自恢复；存储数据是否有溢出错误。计量芯片单元测试包括：电表上电时是否能正常设置计量参数；智能电表正常工作时对计量芯片是否有监视；输入异常计量数据对电表系统的影响。这些测试针对智能电表嵌入式软件，可以全面、细致分析其可靠性。本发明提供的技术方案有效控制了电能表软件的质量，消除了电能表软件可能存在的安全隐患，解决了其功能实现不统一等问题。