有效

一种有效提高阻变存储器耐久性的方法

龙世兵、王国明、张美芸、李阳、许定林、王明、许晓欣、刘红涛、吕杭炳、刘琦、刘明
中国科学院微电子研究所
龙世兵机构 暂无
技术领域 暂无
王国明机构 暂无
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张美芸机构 暂无
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李阳机构 暂无
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许定林机构 暂无
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王明机构 暂无
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许晓欣机构 暂无
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刘红涛机构 暂无
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摘要

本发明公开了一种有效提高阻变存储器耐久性的方法,该方法是在对阻变存储器进行编程操作时,对阻变存储器加载脉冲宽度变化且脉冲高度保持不变的一系列编程小脉冲。利用本发明,可以防止编程过程中,由于脉冲宽度过大,而造成硬击穿,从而提高RRAM耐久性。本方法操作方法简单,降低成本低,有利于本发明的广泛推广与应用。