1.一种测量碳纳米管手性的方法，包括以下步骤：S1提供待测碳纳米管；S2将所述待测碳纳米管完全固定于一基体表面，并将该基体与所述待测碳纳米管一同置于耦合液中，所述耦合液为水或水溶液；S3提供一束具有连续光谱的白色入射光，所述待测碳纳米管在该入射光的照射下发生共振瑞利散射；S4利用物镜为水镜的光学显微镜观测该待测碳纳米管，获取该待测碳纳米管的位置信息，观测时该水镜浸没于所述耦合液中；S5获取所述待测碳纳米管的共振瑞利散射光谱，根据该共振瑞利散射光谱信息获得所述待测碳纳米管的手性指数。
2.如权利要求1所述的测量碳纳米管手性的方法，其特征在于，所述步骤S5进一步包括在共振瑞利散射光谱的基础上获取拉曼散射光谱的方法，具体包括：S51，获得碳纳米管的共振瑞利散射光谱；S52，由碳纳米管的共振瑞利散射光谱计算拉曼散射所需的能量；S53，获得碳纳米管的拉曼散射光谱。
3.如权利要求1所述的测量碳纳米管手性的方法，其特征在于，所述步骤S4进一步包括：对所述碳纳米管的色彩、位置以及形态信息进行记录。
4.如权利要求1所述的测量碳纳米管手性的方法，其特征在于，所述基体为硅基体。
5.如权利要求4所述的测量碳纳米管手性的方法，其特征在于，所述耦合液为超纯水。
6.如权利要求1所述的测量碳纳米管手性的方法，其特征在于，所述入射光预先进行滤波处理滤除入射光中的红外线，然后通过一聚焦透镜进行聚焦后照射该碳纳米管。
7.如权利要求1所述的测量碳纳米管手性的方法，其特征在于，进一步包括将所述耦合液置于一水槽中，所述水槽包括一底面以及至少一透明侧面，所述至少一透明侧面与所述底面的夹角α取值范围为45°≤α<90°；所述白色入射光垂直于所述至少一透明侧面入射。
8.一种测量碳纳米管手性的装置，包括：一超连续谱白光激光器，用于产生入射光，所述碳纳米管在该入射光的作用下发生共振瑞利散射；一基体，所述碳纳米管完全固定于该基体表面；一光学显微镜，所述光学显微镜的物镜为一水镜；耦合液，所述碳纳米管完全浸没于该耦合液中，所述光学显微镜物镜通过该耦合液与所述碳纳米管耦合，所述耦合液为水或水溶液；以及一光谱仪，所述光谱仪与光学显微镜相连，用于采集所述碳纳米管的光谱信息。
9.如权利要求8所述的测量碳纳米管手性的装置，其特征在于，进一步包括一与所述光学显微镜相连的相机，用于记录光学显微镜所获得的碳纳米管的色彩、位置以及形态信息。
10.如权利要求8所述的测量碳纳米管手性的装置，其特征在于，所述基体为一Si/SiO 2 基体，该Si/SiO 2 基体的底部为Si基，在Si基的上部形成有一层SiO 2 层，该SiO 2 层的厚度为30-300nm，所述碳纳米管直接铺设于所述SiO 2 层的表面。
11.如权利要求8所述的测量碳纳米管手性的装置，其特征在于，所述基体具有一凹槽，所述碳纳米管两端分别固定于上述凹槽的两侧，所述碳纳米管位于凹槽上方的部分与凹槽的底面间隔设置。
12.如权利要求8所述的测量碳纳米管手性的装置，其特征在于，进一步包括一盛有耦合液的水槽，所述水槽包括一底面以及至少一透明侧面，所述透明侧面与水槽底面的夹角α取值范围为45°≤α<90°，所述碳纳米管完全浸没于所述耦合液中，入射光垂直于该水槽透明侧面射向该碳纳米管。
13.如权利要求12所述的测量碳纳米管手性的装置，其特征在于，所述水槽透明侧面与水槽底面的夹角α为75°。
14.如权利要求8所述的测量碳纳米管手性的装置，其特征在于，进一步包括一光纤，所述光纤的一端与入射光耦合，另一端与待测碳纳米管同时浸入到耦合液中。
