一种测量阻变存储器激活能的方法

本发明公开了一种测量阻变存储器激活能的方法，包括：测量阻变存储器的I‑V曲线，并从该I‑V曲线来确定阻变存储器的低阻态电流值及高阻态电流值；计算在低阻态及高阻态下阻变存储器导电细丝中的电流；计算阻变存储器高阻态下导电细丝的外加电场；计算高低阻态下载流子跃迁的激活能。利用本发明，通过简单的方法可以测量出阻变存储器的激活能，大大减少了测量误差，并能够区分出电子运动、离子扩散等载流子运动时各自的激活能，为研究阻变存储器的微观物理机制提供理论指导。