超高频传感器损耗测量的试验回路

本实用新型涉及一种超高频传感器损耗测量的试验回路，包括频谱分析仪、GIS设备、连接头、耦合器，所述的频谱分析仪设有RF输出端和RF输入端，所述的RF输出端通过连接头与GIS设备的信号输入端连接，所述的耦合器设在GIS设备的信号输出端，GIS设备的信号输出端通过所述耦合器连接RF输入端。与现有技术相比，本实用新型具有测试精确度高的优点。