失效

应用ZnO量子点进行荧光防伪的方法

许小勇、庄申栋、张业伟、胡经国
扬州大学
许小勇机构 暂无
技术领域 暂无
庄申栋机构 暂无
技术领域 暂无
张业伟机构 暂无
技术领域 暂无
胡经国机构 暂无
技术领域 暂无

摘要

本发明提供一种应用ZnO量子点进行荧光防伪的方法,该方法通过制备出形貌均一,尺寸可控的ZnO量子点,并对制备出的ZnO量子点进行深紫外光照射验证其荧光性能,保证ZnO量子点具有较高的深紫外光选择性,最后对物品进行标记达到防伪功效。与传统荧光防伪方法相比,该方法所用材料ZnO量子点首次用于荧光防伪领域,工艺简单,成本低,防伪材料的制备过程无有毒副产物产生,对环境无污染;通过该方法生成的ZnO量子点洁净且纯度高,尺寸可调,具有较好的深紫外光选择性,防伪性能大为提高。

暂无引用专利