基于直线轨迹扫描的双能欠采样物质识别系统和方法

公开了一种基于直线轨迹扫描的双能欠采样物质识别系统和方法。利用直线轨迹扫描过程中由整层的低能探测器阵列获得的低能投影数据对被检测物体进行CT重建，在CT重建图像中运用区域图像分割方法按照衰减系数对此断层图像进行区域分割并进行标记。同时，利用设置在部分低能探测器后的少数几个高能探测器得到的投影数据实现双能量物质识别成像。由于利用直线轨迹，不需要旋转，因此机械设计简单，检查通关率高；由于仅使用少量几个的双能探测器，系统成本低。