失效
射线检测系统以及利用射线进行无损检测物体的方法
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李元景 专利 1243
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陈志强 专利 1152
清华大学
李荐民 专利 376
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机构 暂无周
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机构 暂无摘要
射线检测系统以及利用射线进行无损检测物体的方法:该检测系统包括:辐射源,用于发射扫描射线;探测器阵列,沿竖直方向与辐射源隔开并相对于辐射源固定安装,用于接收由辐射源发射的射线;运载器,用于运载被检测物体;第一平动装置,能够使被检测物体在辐射源与探测器阵列之间沿第一方向水平运动;和第二平动装置,能够使被检测物体在辐射源与探测器阵列之间沿基本垂直于第一方向的第二方向水平运动。第二平动装置设置在第一平动装置上,而运载器设置在第二平动装置上。本发明可以对被检测物体实现任意角度的DR扫描,提高检测的准确性;还可以对被检测物体的重点部位进行二代、三代CT断层扫描,从而对内部缺陷做出准确判断。
暂无引用专利



