随着集成电路技术的不断发展,反熔丝技术作为一种重要的可编程存储技术,在航空航天、军事、工业控制等领域展现出了广泛的应用前景。传统熔丝技术虽然在一定程度上满足了可编程和存储的需求,但其存在编程后不可逆转、可靠性较低等痛点问题。特别是在一些对可靠性要求极高的应用场景中,如航天器的在轨维修、军事装备的现场可编程逻辑器件(FPGA)配置等,反熔丝技术以其高可靠性、可编程一次性和抗辐射能力等优势,成为了替代传统熔丝技术的理想选择。然而,当前国内在反熔丝技术的工艺开发和流片加工方面仍面临诸多挑战,特别是在基于国内商用工艺线的0.13um/0.18um CMOS工艺平台上,如何实现反熔丝结构与CMOS工艺的兼容,以及如何提高CMOS器件的抗辐射能力,成为了亟待解决的关键问题。因此,本技术需求旨在通过合作开发,推动反熔丝技术在国内商用工艺线上的成熟应用,为相关领域提供高性能、高可靠性的可编程存储解决方案。
需求一种反熔丝技术,基于国内商用工艺线的0.13um/0.18um CMOS工艺平台,可实现反熔丝结构的工艺开发和流片加工,要求工艺成熟度较高。工艺平台具有1.5V/3.3V CMOS器件、高压CMOS器件、反熔丝器件等,可实现反熔丝工艺与CMOS工艺的兼容,同时,CMOS器件具有一定的抗辐射能力。
