随着半导体技术的飞速发展,高精度芯片制造已成为行业内的核心竞争力之一。在芯片制造过程中,湿法制程设备扮演着至关重要的角色,尤其是在晶圆清洗环节,其性能直接影响到芯片的质量和良率。当前,半导体清洗设备领域面临着高端技术瓶颈,特别是在适应更高精度芯片制造方面,现有设备的性能和精度已难以满足日益增长的工艺要求。因此,研发适应更高精度芯片制造的湿法制程设备,成为突破这一技术瓶颈、提升芯片制造质量和效率的关键。 具体而言,这一需求主要应用于12寸晶圆的清洗过程。在芯片制造过程中,晶圆清洗是确保芯片表面洁净度、减少缺陷和提高良率的重要环节。然而,现有清洗设备在流体力学机理研究方面存在不足,如槽体内液体流向动态模拟缺失,导致清洗效果难以达到最佳状态。因此,研发高精度、高效率的湿法制程设备,对于提升芯片制造的整体水平和竞争力具有重要意义。
本技术需求旨在解决以下关键技术问题:
本技术需求期望实现以下效果:
研发适应更高精度芯片制造的湿法制程设备,建立半导体清晰设备领域存在高端技术瓶颈,需要高校及科研机构做一些基础研究,及数字化模型的12寸晶圆清洗设备的流体力学机理研究不足(如槽体内液体流向动态模拟缺失),实现制约产品性能突破。
